SJ/T 10566-1994 可测性总线 第一部分:标准测试存取口与边界扫描结构

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基本信息
标准名称:可测性总线 第一部分:标准测试存取口与边界扫描结构
英文名称:Testability bus -Part 1:Standard test access port and boundary scan architecture
中标分类: 矿业 >> 矿业综合 >> 技术管理
发布部门:中华人民共和国电子工业部
发布日期:1994-08-08
实施日期:1994-12-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
归口单位:电子工业部标准化研究所
起草单位:天津大学、北京自动测试技术研究所
起草人:刘家松、邓平
出版社:电子技术标准化研究
出版日期:1994-12-01
页数:89页
适用范围

本标准规定了数字集成电路和模拟/数字混合集成电路的数字部分用的测试存取口(TAP)与边界扫描结构。本标准规定的测试逻辑可包含在集成电路内,由一个边界扫描寄存器和若干其它块构成,并可通过测试存取口进行存龋本标准适用于在集成电路组装在一块印制电路板或其它基底上后测试集成电路间的互连性、测试集成电路本身和在这个器件正常工作期间观测或修改电路的动作。

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所属分类: 矿业 矿业综合 技术管理
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【英文标准名称】:Superconductivity--Part7:Electroniccharacteristicmeasurements--Surfaceresistanceofsuperconductorsatmicrowavefrequencies
【原文标准名称】:超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
【标准号】:JISH7307-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-03-23
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonNon-FerrousMetals
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K10
【国际标准分类号】:17_220;29_050
【页数】:28P;A4
【正文语种】:日语


基本信息
标准名称:GDB-221型光电倍增管
英文名称:Photomultiplier tubes,Type GDB-221
中标分类: 综合 >> 标准化管理与一般规定 >> 技术管理
发布日期:1983-08-15
实施日期:1984-05-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:4页
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所属分类: 综合 标准化管理与一般规定 技术管理