ASTM B 588-1988 用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-29 08:26:28
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【英文标准名称】:TestMethodforMeasurementofThicknessofTransparentorOpaqueCoatingsbyDouble-Beam-InterferenceMicroscopeTechnique
【原文标准名称】:用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMB588-1988
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层;试验;厚度;透明度;显微分析
【英文主题词】:microscopicanalysis;transparency;coatings;thickness;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_00
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMB588-1988
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层;试验;厚度;透明度;显微分析
【英文主题词】:microscopicanalysis;transparency;coatings;thickness;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_00
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
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