IEC/PAS 62185-2000 热冲击试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-11 20:48:12
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【英文标准名称】:Thermalshocktestmethod
【原文标准名称】:热冲击试验方法
【标准号】:IEC/PAS62185-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;试验;电气工程;电子工程;耐热冲击能力;半导体器件
【英文主题词】:semiconductordevices;thermalshockendurance;electronicequipmentandcomponents;testing;electricalengineering;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:热冲击试验方法
【标准号】:IEC/PAS62185-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;试验;电气工程;电子工程;耐热冲击能力;半导体器件
【英文主题词】:semiconductordevices;thermalshockendurance;electronicequipmentandcomponents;testing;electricalengineering;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
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